产品介绍
一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，*EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪 应用于电子元器件，LED和照明，测厚仪，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题 X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用 1．一般要求 使用可靠的参考标准块校准仪器。最后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。 参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。 金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。 2．标准块的选择 可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，电解测厚仪，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。 3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用 校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同